华南理工大学学报(自然科学版) ›› 2016, Vol. 44 ›› Issue (8): 53-59.doi: 10.3969/j.issn.1000-565X.2016.08.009
刘刚1 吴亮1 金尚儿1 黄嘉盛2
LIU Gang1 WU Liang1 JIN Shang-er1 HUANG Jia-sheng2
摘要: 对两条退役110 kV XLPE 电缆和一条备用电缆进行试验,利用电声脉冲法( PEA) 和X 射线衍射技术( XRD) 研究了老化状况对XLPE 电缆绝缘层微观结构的影响.结果表明: 电缆的老化会造成绝缘晶体尺寸减小,结晶度降低,因此其捕获空间电荷的能力增强; 老化过程始于电缆最外层,而长时间的老化作用对绝缘中间层的影响更大,中间
层可能是击穿的薄弱环节; XLPE 电缆绝缘老化使绝缘微观结构从“中间高两端低”转变为“均匀化”