华南理工大学学报(自然科学版) ›› 2007, Vol. 35 ›› Issue (5): 100-103,108.
吴建青 钟燚 颜东亮
Wu lian-qing Zhong Yi yan Dong-liang
摘要: 采用固相合成法制备了氧化铝掺杂的氧化辞半导体粉体,通过x-射线衍射分析,探讨了掺杂量、煅烧温度和保温时间对粉体导电性能的影响.实验发现: Al2O3 的掺杂量高于0.5%( 摩尔比)时,会生成ZnAl2O4 尖晶石相,降低ZnO 的电导率;在一定的温度和保温时间下,才能保证有足够的Al3+ 进入ZnO 的晶格,从而获得电阻率比较低的ZnO 半导体粉体;温度过高和保温时间过长都会导致Al2O3 与ZnO反应生成尖晶石,减少Al3+ 对Zn2+ 的置换率,并对电子产生散射,从而导致ZnO 半导体粉体的电阻率升高;当Al2O3 掺杂量为ZnO 的0.5 %(摩尔比)时,在1300℃下保温3h 所得到的ZnO 粉体的电阻率为18kΩ•cm.