华南理工大学学报(自然科学版) ›› 2005, Vol. 33 ›› Issue (8): 36-39.
韩乐1 赵磊2
Han Le1 Zhao Lei2
摘要: 通过分析GaN能带结构和跃迁矩阵元,对GaN基量子阱激光器的交叉饱和特性作了理论上的计算与分析.并给出了1’E和TM模自身交叉与相互交叉的交叉饱和系数的曲线,分析了能带结构和载流子面密度对交叉饱和特性的影响.发现相互作用的两光场的率相等时,两光场的交叉饱和系数出现峰值,两光场频率不等时相应的交叉饱和系数远小于峰值;同时发现在交叉饱和系数峰值处,不同载流子面密度将对交叉饱和系数产生不同的影响,因此,载流子面密度的改变可影响交叉饱和系数.