基于生成对抗网络和ＲetinaNet 的销钉缺陷识别

王健, 王凯, 刘刚, 等

Ｒecognition of Defects in Pins Based on Generative Adversarial Network and ＲetinaNet

WANG Jian, WANG Kai, LIU Gang, et al

华南理工大学学报（自然科学版） . 2020, (2): 1 -8 . DOI: 10.12141/j.issn.1000-565X.190345